|
|
|
|
|
РАССЕЯНИЕ СВЕТА ФОТОГРАФИЧЕСКИМИ СЛОЯМИ
И ИХ РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ
П.x. Прусс
Светочувствительный слой фотографических материалов (плёнок, пластинок, бумаг) представляет собой тонкий слой воздушносухой желатины, в которой диспергированы макрокристаллы галоидного серебра. Эти последние поглощают падающий на них свет и обусловливают тем самым светочувствительность фотографического материала. Однако микрокристаллы галоидного серебра не только поглощают, но и рассеивают свет. Причиной этого является значительное различие в показателях преломления галоидного серебра ( ≈2,35 для бромистого серебра и ~1,5 для желатины).
Таким образом, светочувствительный слой фотографических материалов - это плоский слой мутной среды, поглощающей и рассеивающей свет.
Интерес к вопросу о рассеянии света в фотографических слоях возник давно в связи с обычным использованием этих слоев в фотографирующих приборах и системах. Рассеяние света приводит к тому, что фотографический слой не является идеальным экраном, точно воспроизводящим оптическое изображение, создаваемое на нём объективом прибора. Из-за рассеяния снижается резкость границ в изображении, уменьшается контраст, ограниченной оказывается разрешающая способность. Рассеяние света в фотографических слоях не может, очевидно, не сказаться на качестве голограмм, полученных на этих слоях. Поэтому рассматриваемая тема должна представлять также интерес в связи с новой областью использования фотографических материалов - голографией.
Следует указать, что в природе очень велико многообразие мутных сред (дым, туман, жидкие мутные среды, мутные стекла и т.д., и т.д.) и что закономерности рассеяния света в них изучаются очень давно. Так как фотографические слои можно рассматривать
как частный случай мутных сред, то аренде, чем излагать особенности рассеяния света в фотографических слоях, целесообразно коротко остановиться на общих закономерностях рассеяния света в мутных средах.
Различают так называемые слабомутные среды и сильномутные среды. Для первых характерно однократное рассеяние света, при котором луч, отклонившийся от первоначального направления при встрече с частицей, выйдет из слоя, не встретив больше на своём пути других частиц. В слабомутных средах на рассеяние данной частицы не влияет присутствие других частиц. Однократное рассеяние возможно в слоях либо малой толщины, либо низкой концентрации. Для таких сред закономерности рассеяния полностью определяются закономерностями рассеяния на отдельных частицах. В сильномутных средах происходит многократное отклонение одного и того же исходного луча на многих частицах. Поэтому общий результат зависит не только от рассеивающих свойств отдельных частиц, но и от их взаимного расположения, концентрации и толщины слоя. Отметим, что фотографические слои относятся к сильномутным средам.
1. Общие положения теории однократного рассеяния света
Причины рассеяния света при прохождении мутной среды ясны:
первичная плоская волна, встречая частицы с показателем преломления, не равным показателю преломления среды, претерпевает местные искажения, что проявляется в появлении света в направлениях, отличающихся от нормали к фронту первичной волны. Многообразие мутных сред обусловило интерес к явлениям рассеяния света, не ослабевающий до настоящего времени. Опубликованы теоретические и экспериментальные исследования, а также монографии, охватывающие случаи самых разнообразных частиц как по размерам и форме, так и по их оптическим свойствам. Вместе с тем до настоящего времени не существует общей теории рассеяния для частиц любого размера и любой формы. Полное решение имеется лишь для сферических частиц.
Остановимся на закономерностях однократного рассеяния. Для этого рассмотрим основные положения известных теоретических ре-
шений Релея и Ми. Решение Релея /1/, впервые теоретически рассмотревшего задачу о рассеянии света, относится к случаю частиц, малых по сравнению с длиной волны света и имеющих показатель преломления, мало отличающийся от показателя преломления среды. Характерные особенности так называемого релеевского рассеяния видны из формулы для интенсивностей:
Здесь i0- интенсивность падающего на частицу света (световой поток, приходящийся на единицу площади), i- интенсивность рассеянного света, α- угол между направлением падающего пучка и направлением наблюдения (рассеяния), λср=λ/nср -длина волны в среде, v- объём частицы, n =nчаст/nср - относительный показатель преломления частицы в среде с показателем преломления nсp. Особенности так называемого релеевского рассеяния таковы:
1) интенсивность рассеянного света обратно пропорциональна λ 4,
i~1/λ 2ср;
2) интенсивность рассеянного света пропорциональна квадрату объёма частицы i(α)~v2;
3) индикатриса рассеяния симметрична.
Это видно из рис.1, на котором, кроме того, отражены особенности поляризации рассеянного света. Полный световой поток, рассеянный частицей по всем направлениям при единичной интенсивности падающего света, называется коэффициентом рассеяния частицы и равен
Ми /2/ дал общее полное решение задачи о рассеянии света для сферических частиц любых размеров и любых показателей преломления, в том числе комплексных, соответствующих поглощающим частицам.
Полученные Ми формулы для интенсивности рассеянного света и для коэффициентов рассеяния и ослабления (поглощающие частицы могут характеризоваться коэффициентом ослабления, равным сумме
Рис.1. Релеевское рассеяние - полярная диаграмма интенсивности рассеянного света, когда падающее излучение неполяризовано:
1 - интенсивность поляризованного излучения с электрическим вектором, перпендикулярным плоскости чертежа;
2 - интенсивность поляризованного излучения с электрическим вектором, лежащим в плоскости чертежа;
1+2 - кривая полной интенсивности.
коэффициентов поглощения и рассеяния) содержат бесконечные суммы произведений шаровых и цилиндрических функций, мы ее приводим здесь эти формулы, так как, в отличие от формул Релея, они не обладают наглядностью и не позволяют непосредственно анализировать закономерности рассеяния. Закономерности выявляются лишь при конкретных вычислениях, сделанных к настоящему времени в большом количестве.
Физический смысл решения Ми состоит в том, что рассеянный частицей свет может
рассматриваться как бесконечная сумма излучений колеблющихся электрических и
магнитных мультполей. Ми показал, что число членов, которое необходимо принимать
во внимание в бесконечной сумме, возрастает с увеличением размера частицы и
для больших частиц оно порядка ,
где r- радиус
частицы. Таким образом, при рассеянии существен не абсолютный размер (радиус)
частицы, а параметр, характеризующий соотношение между радиусом частицы и длиной
волны света в среде. Общее решение Ми
включает теорию Релея как частный случай, когда можно ограничиться излучением электрического диполя или первой парциальной волной. Если теория Релея объяснила голубой цвет неба, то теория Ми широко использовалась для объяснения окраски коллоидных систем. Для этого производились вычисления спектрального хода коэффициента ослабления и рассеяния частиц равных размеров, находящихся в средах с различными показателями преломления. При этом выявились закономерности изменения зависимости рассеяния от λ с увеличением размеров частиц. Кроме того, были установлены и другие особенности рассеяния более крупными по сравнению с релеевскими частицами. Основные из этих особенностей таковы:
1. Зависимость рассеяния от длины волны ослабляется. Показатель степени λ не равен 4 и уменьшается с увеличением радиуса частиц. Наблюдается прохождение коэффициента рассеяния через максимум, положение которого смещается в сторону больших λ при увеличении размеров частиц. Рассеяние очень крупных частиц спектрально не избирательно.
2. Ослабляется зависимость интенсивности рассеяния (и коэффициенте рассеяния) от размеров частицы. Не сохраняется пропорциональность 6-й степени r. Показатель r уменьшается с увеличением λ и в пределе (очень хрупкие частицы) равен 2, то есть коэффициент рассеяния очень крупных частиц пропорционален их площади сечения.
3. Нарушается симметрия индикатриссы (всё большая часть рассеянного света направляется вперёд (т.н. эффект Ми). Соотношения поляризации рассеянного света также изменяются.
Ослабление света при прохождении через слой слабомутной среды происходит по закону, аналогичному закону Бугера:
здесь i|| - интенсивность света, вышедшего из слоев и не изменившего своего направления; С - поверхностная концентрация диспергированного вещества в слое; τ - так называемая удельная мутность слоя, определяющая оптическую плотность слоя d=lg i0/i при c=const (c=1).
Легко видеть, что удельная мутность слоя возрастает с увеличением размеров частиц, достигает максимального значения n затем падает. Действительно,
c=nvs,
где s- удельный вес вещества частиц, а поток, рассеянный в слабомутной среде n частицами, σ =nКр,
Следовательно,
Для малых частиц kp~v2,
поэтому
Для крупных частиц kp~r2,
поэтому
Таким образом, кривая удельной мутности τ=f( r )
проходит через максимум при некотором r.
Непрозрачность (мутность) слоя меньше в случае мелких и крупных частиц и максимальна
при некотором промежуточном размере.
2. Прохождение света через сильномутные слои
Как уже отмечалось, фотографические слои относятся к сильномутным средам. Вследствие большой концентрации частиц в них происходит многократное рассеяние света. Поэтому нужно кратко остановиться на закономерностях прохождения света через сильномутные среды, отличающихся значительно большей сложностью по сравнению с таковыми для слабомутных сред. Этому вопросу посвящена обширная литература. Для данного рассмотрения существенно отметить следующее. Если на слой мутной среды падает параллельный пучок света, то вошедшая внутрь часть (часть отражается) распределяется следующим обрезом (рис.2). В направлении падения новость ослабляется вначале по показательному закону i=i0l-εl с некоторым показателем ослабления ε, зависящим от концентрации среды, а затем со значительно меньшим показателем ослабления ε'. В различных направлениях рассеяния возникают пучки, яркости которых возрастают по мере углубления в слой, достигают максимума и далее
Рис.2. Общая картина распределения яркости в сильно рассеивающей среде по данным Тимофеевой /3/.
убывают. На глубине, где уже достигнут так называемый режим, показатели ослабления всех пучков (в том числе и в направлении первичного падающего) одинаковы. Свет полностью рассеян.
Таковы общие положения о рассеянии света в мутных средах.
3.Специфика фотографических слоёв. Их микроструктура
Очевидно, что рассеяние света в фотографических слоях связано непосредственно с их микроструктурой, о которой известно следующее.
1. Микрокристаллы галоидного серебра - не сферы (для которых имеется общее решение Ми). У одного типа слоев они имеют округлую форму и значительную толщину, близкую к размеру поперечника
Эти частицы приближаются по форме к кубу или шару; у другого типа слоев микрокристаллы представляют собой пластинки /4/. Микрофотографии это хорошо иллюстрируют. Толстые шарообразные микрокристаллы имеют на микрофотографии размытые границы, интерференционные полосы на них искривлены и сильно сдвинуты относительно полос на фоне. Тонкие пластинчатые, напротив, дают резкие изображения и не больной сдвиг полос, идущих по кристаллу параллельно полосам на фоне.
2. Размеры микрокристаллов колеблются для большого ассортимента фотографических материалов в широких пределах: от диаметра сечения d=0,05 - 0,08 мкм у особо мелкозернистых слоев Микрат, до 1 мкм и более у обычных фотоматериалов, применяемых для кино и аэросъёмок.
Следовательно, лишь самые мелкие микрокристаллы имеют размер, меньший λср. Учитывая, кроме того, большой относительный показатель преломления agВr в желатине (~1,5), нельзя в общем случае полагать, что закономерности рассеяния микрокристаллами фотографических слоев носят характер релеевских.
3. Фотографические слои - полудисперсная система. При этом кривые распределения микрокристаллов по размерам более широкие в случае слоев с пластинчатыми кристаллами. Ввиду этих особенностей прямой перенос теоретических закономерностей рассеяния на случай фотографических слоев невозможен. Поэтому было предпринято систематическое исследование /5/ рассеяния света в фотографических слоях в зависимости от размеров и формы частиц, их концентрации в слое и толщины слоя, на основных результатах которого мы остановимся.
а) Зависимость от замеров частиц. С увеличением размеров микрокристаллов увеличиваются их коэффициент рассеяния (рис.3) и вытянутость индикатрисы рассеяния (рис.4) *, а также изменяется спектральный ход рассеяния (рис.5), высокодисперсные слои рассеивают синий свет значительно сильнее, чем красный; с увеличением размеров максимум спектральной кривой рассеяния τ(λ) смещается в сторону больших λ, вплоть до инфракрасной области спектра.
Рис.3. Зависимость среднего коэффициента рассеяния шарообразных ( 1) и пластинчатых (2) микрокристаллов галоидного серебра от их средней площади проекции на плоскость слоя.
Рис.4. Вытянутость усреднённых индикатрис рассеяния микрокристаллов галоидного
серебра шарообразной (1) и пластинчатой (2) форм в зависимости от их средней
площади проекции .
Рис.5. Штриховые миры, используемые в резольвомвтрии.
б) Зависимость от формы частиц. Оказалось (рис.4), что при одинаковой площади проекции коэффициент рассеяния частиц, имеющих форму пластинок, меньше, чем у шарообразных частиц. Кроме того, пластинчатые микрокристаллы характеризуются, по сравнению с шарообразными той же площади проекции, меньшей λ max для кривой спектрального хода рассеяния τ(λ) и большей вытянутостью индикатрисы. Таким образом, пластинчатые микрокристаллы по коэффициенту рассеяния и спектральному ходу рассеяния как бы соответствуют более мелким шарообразным микрокристаллам, в то же время имея более направленную вперёд индикатрису. Это дает основание ожидать, что в отношении разрешающей способности слои с пластинчатыми микрокристаллами должны иметь преимущества перед слоями с шарообразными. Специальными опытами это было действительно установлено.
в) Изучение обычных по концентрации слоев постепенно возрастающей толщины показало, что для фотографических слоев характерны общие закономерности прохождения света через сильномутные среды, о которых указано выше. Специфика - очень высокие показатели ослабления направленного (ε = 1-2 ) и предельно рассеянного света (ε '= 0,03-0,05 ) и очень малая глубина достижения предельного рассеяния (5-10-20 мкм).
Подводя итог изложенному, отметим ещё раз, что в общем случае закономерности рассеяния света микрокристаллами фотографических слоев не соответствуют релеевским (как это часто считают). В то же время изменение этих закономерностей с увеличением размеров качественно происходит в соответствии с общими теоретическими выводами. Так, мелкие кристаллы рассеивают синий свет сильнее, чем красный, с увеличением размеров увеличивается коэффициент рассеяния, индикатрисса рассеяния вытягивается в направлении падающего света.
Следует отметить также зависимость характеристик рассеяния от формы микрокристаллов.
4. Разрешающая способность фотографических материалов
а) Погоды определения разрешающей способности фотографических материалов
При обычном использовании фотографических материалов в оптических приборах под разрешающей способностью понимают величину, характеризующую способность фотографического материала воспроизводить малые элементы оптического изображения. Для её определения обычно используют проекционный прибор (резольвометр), дающий в плоскости расположения фотографического материала уменьшенное изображение штриховой миры (рис.6). В резольвометре на фотоматериале получают ряд изображений миры - резольвограмму -при различных последовательно возрастающих количествах освещения. Проявленная и полностью обработанная резольвограмма рассматривается в микроскоп при соответствующих условиях освещения
Рис.6. Контраст оптического изображения прямоугольной решётки в зависимости от частоты при различных апертурах безаберрационного объектива.
и увеличения. Максимальная частота штрихов, раздельно передаваемая фотографическим материалом, на лучшем из изображений по плотности определяет разрешающую способность. Очевидно, что в этой способе по существу определяется разрешающая способность системы "объектив резольвометра - фотографический слой". Поэтому объектив резольвометра должен иметь значительно большую собственную разрешающую способность, чем разрешающая способность испытуемого слоя. В резольвометрии обычно используются микроскопические объективы. Так как разрешающая способность практически безаберрационного объектива возрастает с увеличением его апертуры (отношение радиуса входного зрачка объекта к его фокусному расстоянию), то по мере улучшения фотометрических слоев в отнесении их разрешающей способности резольвометры оснащались объективами всё большей апертуры. В настоящее в резольвометрах в основном используются микроскопические
апертурой А = 0,2 /6/ и 0,3 /7,8/. В исследовательских работах опробованы также микроскопические объективы с
А = 0,65 /9/ и 0,85 /10/, и некоторые данные нами получены и для А = 0,95. Численные значения разрешающей способности, получаемые с объективами различных апертур, могут оказаться существенно различными. Причина этого заключается в том, что разрешающая способность фотографических слоёв зависит от контраста оптического изображения миры на слое /8/.
На рис.8 приведены кривые зависимости контраста оптического изображения миры ,
(здесь В max и bmin - яркости тёмных и светлых штрихов миры),
даваемого объективом от частоты n в изображении /11-13/. Из этого рисунка можно, например, видеть, что частота n= 600 мм воспроизводится при А = 0,2 с малым контрастом Кi = 0,14, при А = 0,3 с Кi = 0,55, при А =0,65 с Кi = 0,82 и при А =0,95 с контрастом Кi = 0,86. Эти значения Кi представляют собой коэффициенты передачи контраста tП=ki/k0 объективов по прямоугольной решётке* при частоте изображения n= 600 мм-1 , так как контраст миры К0 = 1. Для других частот будут другие значения tП (~ К i для мир абсолютного контраста), а вся кривая Кi = f(n) есть частотно-контрастная характеристика объектива по прямоугольной решётке. Таким образом, как следует из этих кривых, одна и та же частота воспроизводится различными по апертуре А объективами с существенно различными контрастами Кi, возрастающими при увеличении А . При этом чем меньше частота n, тем меньше это различие в контрастах Кi. Напротив, при больших частотах значения контрастов Кi, сильно возрастают с увеличением апертуры объективе А .
Исходя на этих данных, можно ожидать, что значения разрешающей способности низкоразрешающих фотографических материалов должны мало изменяться с увеличением апертуры объектива. В случае же высокоразрешающих фотоматериалов численные значения разрешающей
способности должны сильно возрастать с увеличением А. Это подтверждено исследованиями ряда плёнок и хорошо видно на примере для трёх плёнок (рис.7).
Рис.7. Зависимость разрешающей способности трёх фотографических плёнок oт апертуры объектива.
Кроме проекционного метода, некоторое применение имел контактный способ /14/ определения разрешающей способности фотографических материалов, при котором мира малого размера копируется контактом на испытуемый материал. Полученные контактные изображения миры рассматриваются под микроскопом, так же как уменьшенные изображения в проекционном методе. Недостатком этого метода является трудность получении малых мир хорошего качества с частотами n>200.
В настоящее время в связи с широким развитием голографии всё более широкое применение получает интерференционный метод определения разрешающей способности фотографических материалов, в некотором отношении аналогичный контактному, так как в этом методе как бы контактно впечатывается на слой интерференционная картина с синусоидальным распределением освещённости. При этом преимущество интерференционного метода перед контактным и проекционным состоит в том, что в большом интервале пространственных частот (до ~3000 мм -1 и более) можно получить интерференционные полосы одинаково хорошего контраста, практически не уменьшающегося с частотой. Кроме того, малая чувствительность к "расфокусировке", отсутствие жёстких требований к "контакту'', возможность контролируемого широкого изменения контраста, а также возможность применения спектрометрического (дифракционного) метода анализа фотографических изображений интерференционной картины, заснятой на слое, т.е. возможность замены визуальной оценки резольвограмм объективным методом их оценки, привлекают к этому методу внимание исследователей, в особенности работающих в области голографии. Исследования показывают /15/, что, как правило, значения разрешающей способности, полученные интерференционным методом, превышают значения, полученные проекционным методом; при этом различие особенно велико в случае больших значений разрешающей способности. Основной причиной этого является существенное различие в контрасте изображений на поверхности исследуемого слоя: в проекционном методе контраст весьма заметно уменьшается с увеличением частоты (рис.7), в интерференционном же остаётся практически постоянным для всех частот. Представляется несомненным, что именно различия в контрасте оптического изображения миры в проекционной методе и контрасте интерференционных полос в интерференционном ответственны за так называемое "сверхразрешение'' /16/ фотографических слоев, используемых для получения голограмм.
Изложенное показывает, что к сообщаемым в публикациях численным значениям разрешающей способности нужно подходить критически с точки зрения сопоставимости этих значений. Так, необходимо
Сразу ж e установить, каким способом (интерференционным или проекционным) эти значения получены. При этом, если проекционным, то при какой апертуре объектива произведено измерение. Если интерференционным, то при каком контрасте интерференционных полос на слое получены числа разрешающей способности. Сравнение различных материалов по разрешающей способности возможно лишь в сопоставимых условиях.
б) Связь разрешающей способности фотографических материалов с их микроструктурой и рассеянием света в них
На рис.8, взятом из статьи И.Р.Протас /17/, представлена зависимость разрешающей
способности r
различных отечественных и импортных фотографических материалов от среднего размера
микрокристаллов ().
r определялось на переоборудованном /9/ резольвометре РП-2 при апертуре микроскопического
объектива А = 0,65. Из рисунка видно, что назревающая способность вначале очень
резко, а затем более медленно падает с увеличением размеров микрокристаллов.
Это соответствует (см. выше) сильной зависимости рассеяния oт размеров частиц
в области малых размеров и значительно меньшей в области крупных частиц.
На рис.9 /5/ приведены 3 кривые зависимости разрешающей способности различных
промышленно выпускаемых фотографических материалов (кривые "А" и "Б") и слоев,
специально лабораторно изготовленных (кривая "Фр.Б"), от средней площади проекции
кристаллов .
Кривые относятся соответственно: "Б" - к слоям, безаммиачных эмульсий, характеризующимся
пластинчатой формой кристаллов, но широкой кривой распределения последних по
размерам; "А" - к слоям аммиачных эмульсий, содержащим шарообразные кристаллы,
но имеющим более узкую кривую распределения кристаллов по размерам; и наконец,
кривая "Фр.Б" - к слоям, специально изготовленным из фракций безаммиачных эмульсий,
имеющим пластинчатую форму кристаллов и в то же время благодаря фракционированию
мелких кристаллов кривую распределения по размерам x,
близкую к таковой для аммиачных эмульсий того же среднего размера .
Рассмотрение этого рисунка показывает, что для всех трёх типов слоев разрешающая
способность умень-
Рис.8. Зависимость разрешающей способности
(r) от средних размеров микрокристаллов
().
дается с увеличением размеров .
Кроме того, рис.9 позволяет cделать выводы о влиянии на разрешающую способность
фотографических слоев формы кристаллов, а также степени полидисперсной эмульсия.
Так, сравнение кривой "Фр.Б" с кривой "a" показывает, что существенное влияние на разрешающую способность оказывает форма кристаллов aghal; так как кривая "Фр.Б" при всех значениях идёт выше кривой "А", то это означает, что при прочих равных условиях слоя с пластинчатыми кристаллами имеют большую разрешающую способность, чем соответствующие слои с шарообразными кристаллами,
Рис.9. Зависимость разрешающей способности (r) от средних размеров микрокристаллов для трёх типов фотографических слоев;
"А" - имеющих округлую форму микрокристаллов и узкую кривую их распределения по размерам;
"Б" - имеющих пластинчатую форму микрокристаллов и широкую кривую распределения.
"Фр.Б" - имевших пластинчатую форму и узкую кривую распределения по размерам.
чтo, очевидно, связано с меньшим рассеянием света пластинчатыми кристаллами.
Сравнение кривых "Фр.Б" и "Б" показывает, что очень большое влияние на разрешающую способность оказывает степень однородности кристаллов по размерам. Отфракционированные эмульсии с плоским кристаллами, имеющие узкие кривые распределения кристаллов по размерам, характеризуются значительно большей разрешающей способностью, чем слои этих же эмульсий, но с широкими кривыми распределения. Это объясняется тем, что при большем разнообразии кристаллов галоидного серебра по светочувствительности возрастает вероятность фотографически активного поглощения рассеянного света.
Существенное влияние на разрешающую способность фотографических слоев разнообразия кристаллов по размерам и светочувствительности показано в работе /18/, в которой исследованы слои из смеси либо разных эмульсий, отличающихся размерами кристаллов, либо частей одной и той же эмульсии, по-разному сенсибилизированных, т.е. различающихся по чувствительности.
Разрешающая способность фотографических слоев зависит от их толщины и концентрации галоидного серебра в них, как правило, уменьшаясь с увеличением толщины и уменьшением концентрации /19-20/, что связано с условиями поглощения и ослабления рассеянного света в слое.
Разрешающая способность зависит от длины волны действующего света /21/. При этом слои высокодисперсных эмульсий, сильнее рассеивающие коротковолновый синий свет, обладают большей разрешающей способностью для красного света, чем для синего (рис.10).
Рис.10. Зависимость разрешающей способности фотографических слоёв:
высокодисперсных (слева) и низкодисперсных (справа) от длины волны действующего света.
Слои низкодисперсных эмульсий, рассеивающие малоизбирательно во всей видимой области спектра, имеют с ней примерно одинаковую разрешающую способность. Сильное поглощение света фотографическими слоями в ультрафиолетовой части спектра обусловливает возрастание разрешающей способности в этой области для всех слоев независимо от степени дисперсности галоидного серебра в них.
Изложенные здесь основные закономерности рассеяния света в фотографических слоях и их разрешающей способности могут оказаться полезными при выборе и изготовлении слоев для различных задач голографии.
Л и т е р а т у р а
1. rayleigh, scientific Рареrs, bd.4, p.397-405, university
press (1903).
2. mie g., ann.d.phys. 30, 57, 1909.
3. В.А.Тимофеева. Доклады АН СССР, 76, 677, 831 (1951).
4. П.В.Мейкляр, П.Х.Прусс. ЖТФ, 19, 104 (1949);
И.Р.Протас, П.Х.Прусс, Ю.А.Кракау. ЖПХ, 22, 823 (1949).
5. П.Х.Прусс. Успехи научной фотографии, 10, 235, 1964.
6. Ю. Гороховский, В.В.Левина. Оптико-механич. промышленность,
вып.9, 26, 1966.
7. В.А.Корндорф, И.А.Черный. Оптико-механич.промышленность,
5, 16, 1959; Жур. научн. и прикл.фотограф, и кинематографии,
11, 278, 1966.
8. Л.Т.Ащеулов, Т.Д.Павличук, М.Д.Хухрина. Успехи научной Фотогр.,
4, 88, 1955.
9. П.Х.Прусс, Жур. научн. к прикл. фотогр. и кинематографии,
13, 52, 1968.
10. f.perrin, j.altman, j.opt.soc.america, 41, 1038, 1951.
11. А.Т.Ащеулов. ОМП, №6, стр.1, 1960.
12. А.Т.Ащеулов, Т.А.Павличук, М.Д.Хухрина. Успехи научн.фотогр., 10, 7 ,
1964.
13. А.И.Трудоровский. Теория оптич.приборов. Изд. АН СССР,
2-е изд., 2, стр.138, 1952.
14. И.И.Брейдо. Успехи научн. фотогр., 4, 111. 1955.
15. s.poize, z.wiss.photogr, 53, 102, 1959.
16. Л.В.Ковальский, В.К.Полянский. Голография и её использование в оптике, ч.2, изд. Лен. дома научно-техн.пропаганды , Л., 1970.
17. И.Р.Протас. Жyp. научн. и прикл.фотогр. и кинематогр., 14, 209, 1969.
18. З.И.Грацианская. Жyp. научн. и прикл. фотогр. и кинематогр., 7, 1969. 1962.
19. П.Х.Прусс. В.И.Максина. Жyp. научн. и прикл. фотографии и кинематогр., 4, 259, 1959.
20. И.Р.Протас, П.Х.Прусс. Жур. научн. и прикл. фотогр. и кинематографии, 6, 294, 1961.
|
|
|
|
|
|
|
|
Copyright
© 1999-2004 MeDia-security,
webmaster@media-security.ru
|
|
|